台式X射线吸收谱仪
产品信息展示
    SuperXAFS

1.宽能谱X射线吸收谱仪
                           
SuperXAFS T2000

核心参数

1.能量范围:2-20keV(全球首创)
2.光通量:≥4×10⁶ photons/s @7-9keV
3.能量分辨率:0.4-0.9eV@2-5 keV
4.能量重复性:≤30 meV@24h
5.调节机构精度:能量扫描最小步长0.1eV

适用性强

满足全部常规样品测试的同时,亦可满足特殊样品测试,如磷、钾、锕系、有毒、有放射性样品等。

操作便捷

1.内置不同元素参数,快速切换测量。
2.提供标样数据库,简化分析流程。
3.支持多样品自动采集,减少进样次数。
4.远程实时监控,配备多重安全联锁设计。

2.多功能X射线吸收谱仪



SuperXAFS M9000

核心参数

1.能量范围:4.5-20keV,可升级至25keV
2.光通量:≥4×10⁶ photons/s @7-9 keV
3.能量分辨率:0.5-1.5 eV@7-9 keV
4.能量重复性:≤30 meV@24h
5.调节机构精度:能量扫描最小步长0.1eV

工作模式

1.支持近边快扫功能。
2.支持透射/荧光模式吸收谱、发射谱。

功能亮点

1.定制多样品自动采集,减少进样次数。
2.提供标样数据库,简化用户分析。
3.支持原位场景定制,提供吸收谱专业数据解析指导。

3.X射线发射谱仪

SuperXAFS E6000

核心参数



1.能量范围:5-18keV
2.能量分辨率:≤2.0eV@(7-9keV)
3.能量重复性:≤30meV@24h
4.X射线源:配置功率≥100W微焦斑×射线源(2个靶材Pd/W),电压20-40kV,最大管电流4mA,核心-空穴生成速率≥1011/s @(7-9keV)              
5.面探测器:配备毛细管聚焦镜,样品处聚焦光斑≤100um,聚焦镜可自动进行切换
6.调节机构精度:能量扫描时最小步长0.1eV

4.快扫型X射线吸收谱仪

SuperXAFS V8000

核心参数



1.能量范围:5-12keV
2.能量分辨率:1-3eV@7-9keV
3.光通量:探测器处最大计数率≥1×10⁶ photons/s @8keV
4.单色器晶体:配备柱面弯曲分光晶体,曲率半径为250mm
5.面探测器:像素尺寸 75um*75um
6.有效面积:77mm*38mm

5.通用型X射线吸收谱仪

SuperXAFS H3000

核心参数



1.工作模式:支持近边快扫功能;支持透射/荧光模式吸收谱
2.能量范围:4.5-20keV,可升级至25keV
3.光通量:≥4×10⁶ photons/s @7-9keV
4.能量分辨率:0.5-1.5eV@7-9keV
5.能量重复性:≤30meV@24h
6.调节机构精度:能量扫描最小步长 0.1eV